Наукові публікації університету

Design and manufacture of multifunctional measuring complex for research of deep level defects in semiconductors


ID: 163404
Кількість показів: 55
дата змінення: 08.12.2015 13:30:33
Ким змінено (ім'я): (ivt4) Тетяна Кільчицька
Вид роботи:  Наукова публікація
Тип роботи:  Праці конференції
Кількість сторінок:  2
Рік видання:  2015
Звітний рік:  2015
Видання:  Electronics and applied physics: International conference
Том:  11
Номери сторінок:  118-119
Галузь науки:  Фізика
Автори,співробітники Університету:  Третяк Олег Васильович / Опилат Віталій Якович / 
Кафедра / Відділ:  Кафедра нанофізики конденсованих середовищ
№ теми: 
Опубліковано за рішенням Вченої ради:  ні
Інститут/Факультет:  Інститут високих технологій

Повернення до списку

Вгору