Наукові публікації університету

Characterization of natural and irradiated nails by means of the depolarization metrics

Mueller polarimetry is applied to study the samples of nails: natural (or reference) and irradiated to
2 Gy ionizing radiation dose. We measure the whole Mueller matrices of the samples as a function of the scattering
angle at a wavelength of 632.8 nm. We apply depolarization analysis to measured Mueller matrices by
calculating the depolarization metrics [depolarization index, Q(M)-metric, first and second Lorenz indices,
Cloude and Lorenz entropy] to quantify separability of the different samples of nails under study based on
differences in their Mueller matrix. The results show that nail samples strongly depolarize the output light in
backscattering, and irradiation in all cases results in increasing of depolarization. Most sensitive among depolarization
metrics are the Lorenz entropy and Q(M)-metric.

ID: 164790
Кількість показів: 139
дата змінення: 28.05.2016 17:57:15
Ким змінено (ім'я): (rff10) Олена Оберемок
Вид роботи:  Наукова публікація
Тип роботи:  Наукова стаття
Кількість сторінок:  7
Рік видання:  2016
Звітний рік:  2016
Видання:  Journal of Biomedical Optics
Том:  21
Випуск, частина:  7
Номери сторінок:  1-7
Галузь науки:  Фізика
Автори,співробітники Університету:  Савенков Сергій Миколайович /  / Оберемок Євген Анатолійович /  / Коломієць Іван Сергійович / 
Кафедра / Відділ:  Електрофізики / Квантової радіофізики
№ теми: 
Посилання на статтю (посилання на рецензію в журналі (для монографій):  http://biomedicaloptics.spiedigitallibrary.org/article.aspx?articleid=2498939
Ключові слова:  Розсіяння світла, поляриметрія, матриця Мюллера, деполяризаційні метрики, доза опромінення
Опубліковано за рішенням Вченої ради:  ні
Інститут/Факультет:  Факультет радіофізики, електроніки та комп'ютерних систем

Повернення до списку

Вгору