Наукові публікації університету

Ellipsometric studies of nanocrystalline silicon films with the thicknesses less than 100 nm


ID: 166551
Кількість показів: 124
дата змінення: 16.11.2017 11:16:32
Ким змінено (ім'я): (admin) Адміністратор НДЧ
Вид роботи:  Наукова публікація
Тип роботи:  Наукова стаття
Кількість сторінок:  8
Рік видання:  2016
Звітний рік:  2016
Видання:  Ukrainian journal of physical optics
Том:  17
Випуск, частина:  3
Номери сторінок:  124-131
Галузь науки:  Фізика
Автори,співробітники Університету:  Бученко Віктор Володимирович / Голобородько Андрій Олександрович
Кафедра / Відділ:  Нанофізики та наноелектроніки / НДЛ Оптичної і мікрохвильової обробки інформації та теорії середовищ
№ теми: 
Посилання на статтю (посилання на рецензію в журналі (для монографій):  doi.org/10.3116/16091833/17/3/124/2016
Опубліковано за рішенням Вченої ради:  ні
Інститут/Факультет:  Факультет радіофізики, електроніки та комп'ютерних систем

Повернення до списку

Вгору