Наукові публікації університету

ELLIPSOMETRIC DIAGNOSTIC OF NANOSTRUCTURED SILICON


ID: 179957
Кількість показів: 43
дата змінення: 10.11.2016 16:01:25
Ким змінено (ім'я): (phys12) Ірина Юргелевич
Вид роботи:  Наукова публікація
Тип роботи:  Тези
Кількість сторінок:  1
Рік видання:  2016
Звітний рік:  2016
Видання:  Optics and High Technology Material Science SPO: International Young Scientists Conference
Том:  17
Номери сторінок:  105
Галузь науки:  Фізика
Автори,співробітники Університету:  Мельниченко Людмила Юріївна / Поперенко Леонід Володимирович / Юргелевич Ірина Владиславівна / 
Кафедра / Відділ:  Оптики
№ теми: 
Опубліковано за рішенням Вченої ради:  ні
Інститут/Факультет:  Фізичний факультет

Повернення до списку

Вгору