Наукові публікації університету

Design and Manufacture of Hardware and Software Platform of Universal Measurement Complex for Research of Deep Level Defects in Semiconductors


ID: 181852
Кількість показів: 53
дата змінення: 08.12.2016 12:34:36
Ким змінено (ім'я): (ivt4) Тетяна Кільчицька
Вид роботи:  Наукова публікація
Тип роботи:  Матеріали конференції
Кількість сторінок:  4
Рік видання:  2016
Звітний рік:  2016
Видання:  International Young Scientists Forum on Applied Physics and Engineering (YSF)
Том:  2
Номери сторінок:  1-4
Галузь науки:  Фізика
Автори,співробітники Університету:   /  / Опилат Віталій Якович
Кафедра / Відділ:  Кафедра нанофізики конденсованих середовищ
№ теми: 
Посилання на статтю (посилання на рецензію в журналі (для монографій):  http://ieeexplore.ieee.org/document/7753806/
Опубліковано за рішенням Вченої ради:  ні
Інститут/Факультет:  Інститут високих технологій

Повернення до списку

Вгору