Наукові публікації університету

Microstructure Characterization of Undoped and Phosphorus Doped Nanocrystalline Silicon Thin Films


ID: 198985
Кількість показів: 44
дата змінення: 10.11.2017 20:41:27
Ким змінено (ім'я): (rff3) Михайло Котов
Вид роботи:  Наукова публікація
Тип роботи:  Тези
Кількість сторінок:  1
Рік видання:  2017
Звітний рік:  2017
Видання:  Materials, Physics and Technology of Thin Films and Nanosystems: International Conference dedicated to memory Professor Dmytro Freik (ICPTTFN)
Випуск, частина:  16
Номери сторінок:  89
Галузь науки:  Фізика
Автори,співробітники Університету:  Родіонова Тетяна Василівна / Находкін Микола Григорович
Кафедра / Відділ:  Нанофізики та наноелектроніки / НДЛ Електронної спектроскопії
№ теми: 
Опубліковано за рішенням Вченої ради:  ні
Інститут/Факультет:  Факультет радіофізики, електроніки та комп'ютерних систем

Повернення до списку

Вгору