Наукові публікації університету

Ellipsometric Diagnostic of Anisotropy Properties of Surface Layer of Silicon After Laser Treatment


ID: 225894
Кількість показів: 6
дата змінення: 04.04.2019 11:55:47
Ким змінено (ім'я): (phys12) Ірина Юргелевич
Вид роботи:  Наукова публікація
Тип роботи:  Наукова стаття
Кількість сторінок:  7
Рік видання:  2019
Звітний рік:  2019
Видання:  Laukaitis G. (ed): Recent Advances in Technology Research and Education. Inter-Academia 2018. Lecture Notes in Networks and Systems (LNNS)
Том:  53
Номери сторінок:  66-72
Галузь науки:  Фізика
Автори,співробітники Університету:  Мельниченко Людмила Юріївна / Поперенко Леонід Володимирович / Юргелевич Ірина Владиславівна
Автори зовнішні:  Aoki Toru / Гнатюк Дмитро Володимирович
Кафедра / Відділ:  Оптики
№ теми:  19БФ051-02
Посилання на статтю (посилання на рецензію в журналі (для монографій):  https://www.scopus.com/record/display.uri?eid=2-s2.0-85063131735&origin=resultslist&sort=plf-f&src=s&sid=68b10aef10001de3494df6b382ee057b&sot=autdocs&sdt=autdocs&sl=17&s=AU-ID%286507660135%29&relpos=0&citeCnt=0&searchTerm=
Опубліковано за рішенням Вченої ради:  ні
Інститут/Факультет:  Фізичний факультет

Повернення до списку

Вгору