Наукові публікації університету

Fast and quatitative 2D and 3D orientation mapping using Raman microscopy

Non-destructive orientation mapping is an important characterization tool in materials science and geoscience for understanding and/or improving material properties based on their grain structure. Confocal Raman microscopy is a powerful non-destructive technique for chemical mapping of organic and inorganic materials. Here we demonstrate orientation mapping by means of Polarized Raman Microscopy (PRM). While the concept that PRM is sensitive to orientation changes is known, to our knowledge, an actual quantitative orientation mapping has never been presented before. Using a concept of ambiguity-free orientation determination analysis, we present fast and quantitative single-acquisition Raman-based orientation mapping by simultaneous registration of multiple Raman scattering spectra obtained at different polarizations. We demonstrate applications of this approach for two- and three-dimensional orientation mapping of a multigrain semiconductor, a pharmaceutical tablet formulation and a polycrystalline sapphire sample. This technique can potentially move traditional X-ray and electron diffraction type experiments into conventional optical laboratories.

ID: 241198
Кількість показів: 32
дата змінення: 10.12.2019 11:55:28
Ким змінено (ім'я): (rff10) Олена Оберемок
Вид роботи:  Наукова публікація
Тип роботи:  Наукова стаття
Кількість сторінок:  10
Рік видання:  2019
Звітний рік:  2019
Видання:  Nature Communications
Том:  10
Номери сторінок:  1-10
Галузь науки:  Фізика
Автори,співробітники Університету:  Куцик Андрій Михайлович / Пільгун Юрій Вікторович
Автори зовнішні:  O.O. Ilchenko
Кількість недоданих авторів:  6
Кафедра / Відділ:  Квантової радіофізики / НДЛ Квантової радіофізики / Радіотехніки та радіоелектронних систем
№ теми:  16КП052-02 / 19БФ052-04
Посилання на статтю (посилання на рецензію в журналі (для монографій):  https://www.nature.com/articles/s41467-019-13504-8
Опубліковано за рішенням Вченої ради:  ні
Інститут/Факультет:  Факультет радіофізики, електроніки та комп'ютерних систем

Повернення до списку

Вгору