Наукові публікації університету

Automatic device for temperature measurements of semiconductor samples


ID: 241392
Кількість показів: 25
дата змінення: 13.12.2019 14:15:38
Ким змінено (ім'я): (ivt4) Тетяна Кільчицька
Вид роботи:  Наукова публікація
Тип роботи:  Праці конференції
Кількість сторінок:  2
Рік видання:  2019
Звітний рік:  2019
Видання:  Electronics and applied physics: International conference
Том:  15
Номери сторінок:  59-60
Галузь науки:  Фізика
Автори,співробітники Університету:  Сусь Богдан Богданович
Кафедра / Відділ:  Кафедра нанофізики конденсованих середовищ
№ теми:  19БФ07-01
Опубліковано за рішенням Вченої ради:  ні
Інститут/Факультет:  Інститут високих технологій

Повернення до списку

Вгору