Наукові публікації університету

Surface roughness of silicon films // Proceefing of the YIII International Conference “Electronics and Applied Physics”, October, 24-27, 2012, Kyiv, Ukraine.


ID: 92542
Кількість показів: 59
дата змінення: 02.12.2014 22:54:26
Ким змінено (ім'я): (rff3) Михайло Котов
Вид роботи:  Наукова публікація
Тип роботи:  Тези
Кількість сторінок:  2
Рік видання:  2012
Звітний рік:  2012
Видання:  Електроніка та прикладна фізика: Міжнародна конференція
Том:  666
Номери сторінок:  86.0000
Галузь науки:  Фізика
Автори,співробітники Університету:  Находкін Микола Григорович / Куліш Микола Полікарпович / Родіонова Тетяна Василівна / Сутягіна Анастасія Сергіївна
Кафедра / Відділ:  Нанофізики та наноелектроніки / НДЛ Електронної спектроскопії
№ теми: 
Інститут/Факультет:  Факультет радіофізики, електроніки та комп'ютерних систем

Повернення до списку

Вгору