Видання

Semiconductor Defect Engineering Materials. Synthetic. Structures and Devices II. Edited by S.Ashok, P.Kiesel, J.Chevallier, T.Ogino


ID: 1503
Кількість показів: 105
дата змінення: 19.08.2014 19:28:55
Ким змінено (ім'я): (admin) Адміністратор НДЧ

Значення SNIP видання в Scopus
SNIP: |


Публікації у виданні





Тип
Назва документу
Автори
Рік видання
Джерело
1
Праці конференції
The dynamic ultrasound influence on the diffusion and drift of the charge carriers in silicon p-n structures


Фізичний факультет
Загальної фізики
Оліх Олег Ярославович
Бурбело Мирослав-Роман Михайлович
2007
Semiconductor Defect Engineering Materials. Synthetic. Structures and Devices II. Edited by S.Ashok, P.Kiesel, J.Chevallier, T.Ogino
c.88.0000

Повернення до списку

Вгору