Видання

Journal of Semiconductors


ID: 169025
Кількість показів: 133
дата змінення: 22.11.2018 13:36:24
Ким змінено (ім'я): (privet_tm) Сергій Вінтоняк
Посилання на журнал, показники:  http://iopscience.iop.org/journal/1674-4926
Видано:  закордоном

Значення імпакт фактора за Web of Science
IF: 0.392 | 2015

Значення SNIP видання в Scopus
SNIP: 0.376 | 2015

Значення SJR видання в Scopus
SJR: 0.204 | 2015


Публікації у виданні





Тип
Назва документу
Автори
Рік видання
Джерело
1
Наукова стаття
Effect of ultrasound on reverse leakage current of silicon Schottky barrier structure


Фізичний факультет
Загальної фізики
НДЛ Фізичне матеріалознавство твердого тіла
Оліх Олег Ярославович
Дубик (Войтенко) Катерина Володимирівна
Бурбело Мирослав-Роман Михайлович

2016
Journal of Semiconductors
т.37 c.122002-1 - 122002-7

Повернення до списку

Вгору