Видання

Journal of Semiconductors

ID: 169025
Кількість показів: 138
дата змінення: 22.11.2018 13:36:24
Ким змінено (ім'я): (privet_tm) Сергій Вінтоняк
Посилання на журнал, показники: http://iopscience.iop.org/journal/1674-4926
Видано: закордоном

Значення імпакт фактора за Web of Science
IF: 0.392 | 2015

Значення SNIP видання в Scopus
SNIP: 0.376 | 2015

Значення SJR видання в Scopus
SJR: 0.204 | 2015

Публікації у виданні

№	Тип	Назва документу	Автори	Рік видання	Джерело
1	Наукова стаття	Eﬀect of ultrasound on reverse leakage current of silicon Schottky barrier structure Фізичний факультет Загальної фізики НДЛ Фізичне матеріалознавство твердого тіла	Оліх Олег Ярославович Дубик (Войтенко) Катерина Володимирівна Бурбело Мирослав-Роман Михайлович	2016	Journal of Semiconductors т.37 c.122002-1 - 122002-7

Повернення до списку